Sistema de medição telecêntrico para inspeção em linha de alta velocidade

A plataforma baseada em Silhouette oferece repetibilidade submícron, exposição de 25 μs e medição sem distorção em todo o campo de visão.

A KEYENCE expandiu sua série TM-X5000 com um novo cabeçote sensor de campo ultralargo que oferece um campo de visão de 120 mm, visando inspeção dimensional em linha de alta velocidade em componentes maiores.

Os principais recursos são:

Sistema óptico telecêntrico duplo com telecentricidade de 0,0001° (típico)
Opção de campo de visão ultra amplo de 120 mm
Exposição mínima de 25 μs;ciclos de amostragem de até 3 ms
Repetibilidade até ±0,03 μm;precisão de posição para ±0,2 μm
Até 100 ferramentas de medição simultâneas com detecção de defeitos em linha
A mais recente adição aumenta a área máxima de medição de 65 mm para 120 mm, mantendo a repetibilidade submícron.Projetado para inspeção de diâmetro externo, folga, largura e perfil, o sistema combina óptica telecêntrica dupla com análise baseada em silhueta para fornecer medições estáveis, independentemente do tipo de material, incluindo alvos transparentes e reflexivos.

No centro da plataforma está um sistema óptico telecêntrico duplo com lentes no transmissor e no receptor.Usando iluminação LED verde colimada e um sensor CMOS de alta resolução, o sistema captura silhuetas nítidas mesmo quando os alvos mudam dentro do campo de visão.A telecentricidade de 0,0001° (típica) ajuda a minimizar a variação de tamanho devido ao desalinhamento.

Tempos de exposição tão curtos quanto 25 μs até 40 vezes mais rápidos que os modelos convencionais permitem medições sem desfoque de peças em movimento rápido ou em rotação.O sistema suporta ciclos de amostragem de até 3 ms, permitindo uma verdadeira inspeção em linha sem diminuir a velocidade das linhas de produção.

A precisão da posição de medição é especificada em até ±0,2 μm em áreas de alta precisão, com repetibilidade de até ±0,03 μm dependendo do cabeçote selecionado.A óptica sem distorção e o processamento de subpixels dividem cada pixel em mais de 100 subpixels para manter a precisão em todo o campo de visão, reduzindo a variação na detecção de bordas.

O controlador suporta até dois cabeçotes sensores e até 100 ferramentas de medição por cabeçote, incluindo funções de GD&T, pitch, runout e comparação mestre.A detecção integrada de anormalidades permite a medição dimensional simultânea e a detecção de rebarbas, lascas ou partículas estranhas.Com cabeçotes com classificação IP64, unidades de fieldbus opcionais, incluindo EtherNet/IP, PROFINET e EtherCAT, e capacidade de importação CAD para criação rápida de programas, o sistema está posicionado como uma plataforma completa para ambientes automotivos, eletrônicos, médicos e de fabricação de precisão.